下载用于激光器的温控系统、用于高敏检测的方法和装置的技术资料

文档序号:14505428

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本发明公开了一种用于激光器的温控系统、用于高敏检测的方法和装置;其中,所述系统包括:将温度测量电路用于检测半导体激光器工作过程中的温度信号,并输出用于表征所述温度信号的电压信号;将放大电路与所述温度测量电路连接,以接收所述电压信号并进行放大...
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