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本发明公开了一种磁环表面缺陷提取方法，包括如下步骤：利用0TSU分割磁环图像S(X，Y)，得到磁环二值图像B(X，Y)，将B(X，Y)和S(X，Y)进行与运算，得到屏蔽背景图像F(X，Y)；利用Canny算法提取磁环图像F(X，Y)的边缘检...
该专利属于浙江理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江理工大学授权不得商用。

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