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一种基于MXT9030的薄膜厚度测量系统，涉及一种薄膜厚度测量系统。本发明包括电容传感器、MXT9030电容‑电压转换器电路、PIC单片机、LED显示单元和工作指示灯；电容传感器与MXT9030电容‑电压转换器电路、PIC单片机依次连接，P...
该专利属于哈尔滨理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨理工大学授权不得商用。

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