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本发明提供了一种测量分子层折射率的方法，所述方法包括如下步骤：1)制备金属纳米核，在所述金属纳米核表面吸附待测分子，形成所述待测分子的分子层，同时测量金属纳米核在吸附待测分子前后的吸收光谱偏移；2)在分子层外表面包覆金属壳层，得到内嵌待测分...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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