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本实用新型提供一种LED测试装置，用于测试LED芯片的光、电参数，至少包括：一个具备固定遮光面积的治具、测试针、电性参数采集器、收光器；所述一种具备固定遮光面积的治具固定在测试针上，所述测试针最少由两段组成，第一段与电性参数采集器电性连接，...
该专利属于天津三安光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津三安光电有限公司授权不得商用。

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