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本发明公开了一种实现时序测试的方法及装置，包括：向上偏拉输出至时序测试的双倍速率同步动态随机存储器(DDR)的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最大参考电压值；向下偏拉输出至时序测试的DDR的标准参考电压，直至DDR异常时，将...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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