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本发明实施例公开了一种太赫兹阵列探测器的非均匀性校正系统和方法。该系统包括单点太赫兹辐射源、抛物面反射镜和太赫兹阵列探测器，其中单点太赫兹辐射源位于抛物面反射镜的焦点处，太赫兹阵列探测器设置在抛物面反射镜的前方，使得抛物面反射镜反射出的来自...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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