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本发明提供一种正电子发射断层成像探测效率的检测、校正方法及装置。检测方法包括：使用该正电子发射断层成像系统进行第一采集，获取影响探测效率的第一活度相关因子；使用该正电子发射断层成像系统进行第二采集，并根据第二采集所得数据及所述第一活度相关因...
该专利属于上海联影医疗科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海联影医疗科技有限公司授权不得商用。

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