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一种新型超薄同轴光源探测系统，包括：光源、准直系统、探测器、镜头、待测物体及半透半反镜组，所述半透半反镜组位于探测镜组与待测物体之间，所述半透半反镜组包括第一棱镜和第二棱镜，其中两棱镜相互贴合的表面上镀有半透半反膜，光源发出的平行光束一部分...
该专利属于北醒（北京）光子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北醒（北京）光子科技有限公司授权不得商用。

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