温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种干涉仪近场测试装置、测试方法及校准方法,涉及干涉仪校准及测试技术领域。本发明技术要点:包括若干测试天线阵元、若干移相器、功分器、射频信号源及控制器;控制器与射频信号源、功分器均具有信号连接;射频信号源的射频信号输出端与功分器...该专利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第二十九研究所授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种干涉仪近场测试装置、测试方法及校准方法,涉及干涉仪校准及测试技术领域。本发明技术要点:包括若干测试天线阵元、若干移相器、功分器、射频信号源及控制器;控制器与射频信号源、功分器均具有信号连接;射频信号源的射频信号输出端与功分器...