下载一种低测试成本的金属引线框结构及其制造方法的技术资料

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本发明涉及一种低测试成本的金属引线框结构及其制造方法,属于半导体封装技术领域。它包括多个单元,每个单元均包括引脚,所述引脚包括第一金属层(1)和第二金属层(2),所述第二金属层(2)设置于第一金属层(1)正面,所述引脚与引脚之间填充有塑封料...
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