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本发明涉及一种元件反件检测方法和系统，其中方法包括以下步骤：获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像；获取所述极性区域图像中像素值处于预选的像素值区间内的像素点的第一数量，将所述第一数量与预存的极性区域参考图像中像素值处于所述像...
该专利属于广州视源电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州视源电子科技股份有限公司授权不得商用。

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