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本发明提供的一种基于耦合压电阻抗的转子损伤检测方法，包括两各压电片组、待测转子以及无损转子，每个压电片组具有两个压电片，待测转子和无损转子分别设置一个压电片组，每个压电片串接一个电阻；能够对转子的损伤进行精确检测，包括转子损伤的程度以及损伤...
该专利属于重庆大学所有，仅供学习研究参考，未经过重庆大学授权不得商用。

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