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本发明属于机器视觉图像测量与屏幕检测技术领域，具体涉及一种基于计算机视觉的LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法。本方法对屏幕图像预处理获取二值化参数u0，通过自学习获取LCD单元的垂直VD、水平HD间距参数；对待检测图像进行全局二值化得到图像BI...
该专利属于中科院成都信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中科院成都信息技术股份有限公司授权不得商用。

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