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粒子追踪分析方法和用于检测及特征化纳米级粒子的装置制造方法及图纸
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下载粒子追踪分析方法和用于检测及特征化纳米级粒子的装置的技术资料
文档序号:14181736
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一种用于光学检测粒子(23)的方法及装置具有下列特征:(a)具有矩形截面、由黑色玻璃制成的组件壁(9)利用L形加热及冷却组件(1)而被装配在纵向表面及接合的横向表面上;(b)组件壁(9)中与形成组件壁(9)支座的横向表面相对的横向表面中央受...
该专利属于梅特里克斯微粒有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过梅特里克斯微粒有限公司授权不得商用。
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