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本发明涉及一种密封电连接器低温泄漏判据的确定方法。包括以下步骤：步骤一：推导漏率计算公式；步骤二：根据标准规定的泄漏判据，计算常温常压下最大理想漏孔；步骤三：开展电连接器漏孔有限元仿真；步骤四：根据低温下漏孔尺寸和漏率公式，计算低温下泄漏判...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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