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本发明公开了一种OR‑ing MOSFET故障在线检测的方法及系统，该方法包括：将OR‑ing MOSFET栅极驱动关闭，检测VD‑S；将VD‑S与预设故障门限电压比较，判断是否有外部中断，如果是，则触发定时器开始计时，否则，MCU本地故障...
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