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本发明公开了一种清晰度测量装置，包括第一光源系统，成像系统和第一探测器；被测样品设置于成像系统和第一探测器之间或者成像系统的成像元件之间，第一光源系统的发光光源或出光口通过成像系统后成像在第一探测器的探测面上；第一探测器为一维线型阵列或二维...
该专利属于远方谱色科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过远方谱色科技有限公司授权不得商用。

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