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本发明提供了一种接触式LTPS的检测方法和用于接触式LTPS检测的焊盘结构，所述检测方法包括：提供LTPS器件，LTPS器件包括多个待检测的焊盘；在多个待检测的焊盘中设一第一测试焊盘与一第二测试焊盘，并将第一测试焊盘与第二测试焊盘电性连接；...
该专利属于上海和辉光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海和辉光电有限公司授权不得商用。

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