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本发明涉及一种点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法，包括：利用现有重力模型及不同分辨率重力数据构建低分辨率分层残差点质量模型，对垂直重力梯度和精确位置进行测量，根据测量数据进行深度反演，确定点质量埋藏深度范围，以一定步长选择多...
该专利属于中国人民解放军信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军信息工程大学授权不得商用。

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