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文档序号:14000324

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本发明公开了一种光学探头与电磁场测量设备及它们的测量方法。光学探头包括准直器、起偏器、石英波片、电光晶体、高反射率介质片、入射光纤、以及石英玻璃管。按照准直器、起偏器、石英波片、电光晶体以及高反射率介质片的顺序依次组装在石英玻璃管中,入射光...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第三十八研究所授权不得商用。

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