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独立的薄片(诸如多孔聚合物和纸)的非接触薄材厚度测量检测由来自薄片的上表面和下表面的光反射所创建的中红外干涉条纹。该技术包括以选定的入射角度将激光束引导到在暴露外表面的单个点上(其中激光束包括具有在3‑50微米范围内波长的辐射)和在将激光束...
该专利属于霍尼韦尔有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过霍尼韦尔有限公司授权不得商用。

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