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用于电离样品的质谱分析探针和系统技术方案
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下载用于电离样品的质谱分析探针和系统的技术资料
文档序号:13971729
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本发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中,本发明提供一种质谱分析探针,其包括衬底,其中该衬底的一部分涂布有一种材料,其一部分从该衬底突出。...
该专利属于普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校所有,仅供学习研究参考,未经过普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校授权不得商用。
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