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本发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中，本发明提供一种质谱分析探针，其包括衬底，其中该衬底的一部分涂布有一种材料，其一部分从该衬底突出。...
该专利属于普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校所有，仅供学习研究参考，未经过普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校授权不得商用。

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