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本发明提供了一种分析提取近红外小分子痕量气体特征含量的方法和分析仪，该方法包括：(1)、在中心波长所在的谱线半高全宽内选取长度大于2N的超完备基样本，并从该超完备基样本中选出1组样本长度为2N的样本；(2)、根据所述欲确定的完备基样本的长度...
该专利属于武智瑛所有，仅供学习研究参考，未经过武智瑛授权不得商用。

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