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一种用于对关注区域内的冰或大粒径过冷微滴进行检测的系统，该系统具有检测系统，该检测系统在关注区域暴露于具有在大约2.05μm至大约2.30μm范围中的波长的短波红外辐射的情况下对关注区域的辐射或反射进行测量。该检测系统对在具有在大约2.05...
该专利属于密执安州立大学董事会所有，仅供学习研究参考，未经过密执安州立大学董事会授权不得商用。

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