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芯片测试控制电路及其方法技术
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文档序号:13775148
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本发明公开一种芯片测试控制电路及其方法,在IC的众多pin脚里面找到三个默认状态为输入状态的pin脚,一个默认状态为输出状态的pin脚,然后找到一个IC的按键复位pin脚,利用这些现有的IC pin脚,再配合组合逻辑模块、状态机及状态译码逻...
该专利属于珠海市一微半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过珠海市一微半导体有限公司授权不得商用。
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