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本发明公开了一种基于半导体制冷装置的LM‑80老化测试系统，包括：测试箱和设于测试箱内的控制器，测试箱内还设有箱体温度调节组件和灯壳温度调节组件。本发明还提出了一种上述LM‑80老化测试系统的控制方法。本发明能自动控制环境温度和灯壳温度，测...
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