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本发明公开了一种微小电容测量方法及装置，涉及信号处理领域，该微小电容测量装置包括：待测电容移相电路，用对参考基波信号V(Sin)进行移相处理和波形反向处理；信号运算处理单元，用于通过参考基波信号V(Sin)获得参数电压值AINO、AIN1；...
该专利属于武汉精测电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子技术股份有限公司授权不得商用。

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