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本实用新型公开了一种直线划擦实验设备，包括光学平板、支撑系统、Y轴方向进给装置、试样夹具、工具头、力传感器、Z轴设定器、Z轴设定器夹具、X轴方向进给装置、声发射传感器、测力系统和声发射系统。本实用新型所公开的直线划擦实验设备可以用于单颗压头...
该专利属于华侨大学所有，仅供学习研究参考，未经过华侨大学授权不得商用。

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