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本发明公开了一种全耗尽绝缘层硅晶体管的形成方法，在SOI衬底上，通过在源漏层淀积一层金属，并连接在局部区域形成的高掺杂、激活的源漏区，可使串联电阻得到显著减小，从而解决了传统技术中因使用硅化物掺杂层所带来的接触电阻高的问题。...
该专利属于上海集成电路研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海集成电路研发中心有限公司授权不得商用。

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