温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种可用于辐射场下发射率测试的装置，属于发射率测试技术领域。该装置在现有发射率测试系统的基础上设置了辐射场系统和温度控制系统。所述辐射场系统包括辐射源、样品照射台、照射台轨道，所述温度控制系统包括绝热箱、绝热样品套、绝热操作手套...
该专利属于安徽工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过安徽工业大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。