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本实用新型公开了一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，涉及微波器件测试技术领域。本实用新型包括测试平台、定位机构、锁紧机构及上升顶出机构，所述的测试平台支撑于架体之上，定位机构用于对被测管壳进行定位，锁紧机构对定位机构进行锁紧，上升顶出机...
该专利属于中国电子科技集团公司第十三研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十三研究所授权不得商用。

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