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本发明涉及一种芯片硬件木马检测方法和系统，其方法包括：对所有的待测芯片进行参数旁路测试，采集待测芯片在工作状态下的旁路数据；根据旁路数据、采用融合K均值算法的遗传算法对待测芯片进行聚类分析，得到聚类芯片集；提取聚类芯片集中的待测芯片进行反向...
该专利属于工业和信息化部电子第五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过工业和信息化部电子第五研究所授权不得商用。

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