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本发明公开了一种温度和应力同时探测的瑞利‑布里渊光时域反射计，其利用光纤F‑P干涉仪的周期结构，通过扫描光纤F‑P干涉仪的腔长，同时获得光纤瑞利后向散射谱和光纤布里渊散射谱。该反射计包括依次连接的光学发射单元、探测目标单元、滤波单元、光谱扫...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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