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一种三波长二维温度场测量装置及方法，属于温度场测量装置及方法。测量装置：遮光筒K减弱环境杂散光的影响；主物镜L1，用于光学成像，将待测物体的辐射成像在视场光阑上；透镜L2，产生平行光线；孔径光阑，控制成像光束的光能量；干涉滤光片F1，F2，...
该专利属于中国矿业大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国矿业大学授权不得商用。

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