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本实用新型公开了一种涡旋光的干涉测量装置，包括：涡旋光产生单元、控制单元、涡旋光调制单元、共轭涡旋光干涉单元和图像采集单元。涡旋光产生单元用于产生涡旋光束；控制单元用于改变涡旋光的传播光路；涡旋光调制单元用于对涡旋光束的拓扑荷进行调制；共轭...
该专利属于华南师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学授权不得商用。

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