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本发明公开了一种表面曲率突变光学轮廓测量方法，首先获取光带图像，再对光带图像进行均值滤波和二值化处理，然后对二值化处理后的光带图像进行平均灰度计算，采用平均灰度算法判断台阶曲率突变的特殊位置，在三维轮廓重建的过程中，能对曲率突变位置作出相应...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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