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具有片上光学增益测量结构的光子电路器件制造技术
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文档序号:13333809
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本发明显著地涉及用于光学增益测量的光子电路器件(100),其包含:基板(10),具有光子电路,该光子电路包含限定沿相同方向对准的两个波导部分的一个或多个波导(71、72);有源增益区(62‑66),位于该基板的顶部上且耦合在该器件中,以通过...
该专利属于国际商业机器公司所有,仅供学习研究参考,未经过国际商业机器公司授权不得商用。
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