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单颗磨粒高速连续划擦试验机的进给轴调平系统及方法技术方案
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文档序号:13330462
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本发明公开了一种单颗磨粒高速连续划擦试验机的进给轴调平系统及方法,该调平系统包括机床,电主轴,划擦盘,进给轴,激光位移传感器,车削装置等,首先将车削装置固接在进给轴上,划擦盘高速旋转,对划擦盘进行立式车削;然后将激光位移传感器固结在进给轴上...
该专利属于华侨大学所有,仅供学习研究参考,未经过华侨大学授权不得商用。
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