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本发明涉及一种面向智能电表嵌入式应用的测试方法，其包括对存储芯片单元和计量芯片单元的相关测试方法。存储芯片单元的测试包括：存储芯片对不同数据的分块存储，EEPROM不能写时的存储策略；智能电表重要数据是否有备份；存储器重要数据被破坏可否自恢...
该专利属于国家电网公司;中国电力科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过国家电网公司;中国电力科学研究院授权不得商用。

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