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一种干涉粒子成像系统采样区内粒子的判别方法，应用于干涉粒子成像系统，属于光学测量技术领域。该方法首先根据干涉条纹图尺寸计算公式推导片状激光束照明区域内干涉条纹图尺寸范围Φt_min～Φt_max。然后搭建干涉粒子成像实验系统，在系统离焦距g...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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