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本发明公开了一种多光谱滤光片低温光谱半波宽测试方法，所述多光谱滤光片包括测试片和正式片，测试片的尺寸满足测试装置中测杜瓦的要求，通过测试片常温与低温下光学参数差异，推算正式片对应的数据；其中，测试片低温波长漂移等同于正式片低温波长漂移。本发...
该专利属于天津津航技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过天津津航技术物理研究所授权不得商用。

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