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本发明提供用INI实现集成电路量产测试管理系统流程控制的方法，集成电路测试管理系统主要作用是管控每道测试流程所处的状态，一种状态的下一个可选状态有很大不确定性，如果用程序来控制则非常繁琐，本发明提供一种清晰、且可以配置的方法实现了流程状态的...
该专利属于北京确安科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京确安科技股份有限公司授权不得商用。

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