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本发明公开了一种多指标检测微流控芯片及检测方法，该微流控芯片包括芯片盖片和芯片底片，芯片盖片中心贯穿设有进液孔道，芯片盖片外部设有多个出气孔道，芯片底片中心设有进液容腔，芯片底片中部设有多个反应容腔，进液容腔与各反应容腔之间通过微流通道相连...
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