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本发明公开了用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法，首先在多种辐射条件下由检测装置多次测量获得响应量，并记录设置辐射温度和环境温度，解算方程组获得像元辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子，继而得到像元辐射响应温度特性公式...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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