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总体上，本发明涉及一种用于分类支持的分析方法、一种用于确定用于该分析方法的分析参数Ys，Ei，Ii，σi的求出方法、一种计算机程序产品和一种用于分类支持的光学分析系统，其中基于第一和第二校准数据能够确定分析参数Ys，Ei，Ii，σi，分析参...
该专利属于西门子医学诊断产品有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子医学诊断产品有限责任公司授权不得商用。

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