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本发明公开了一种数字温度补偿晶体振荡器的生产调测系统及调试方法，其中生产调测系统包括高低温试验箱、至少一组用于待测晶体振荡器放置并引出每个待测晶体振荡器的相关信号的待测产品载板、用于测量待测晶体振荡器输出频率并作为系统控制中心的测频及主控模...
该专利属于张宇恒所有，仅供学习研究参考，未经过张宇恒授权不得商用。

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