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本发明公开了一种信息处理方法,包括:确定芯片中需要进行可测试性设计DFT处理的模块;通过包含include方式在所述需要进行DFT处理的模块中建立DFT信号传输通道,并利用对应的端口信号,生成通道文件;根据例化引用关系,逐层穿插所述DFT信...该专利属于深圳市中兴微电子技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市中兴微电子技术有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种信息处理方法,包括:确定芯片中需要进行可测试性设计DFT处理的模块;通过包含include方式在所述需要进行DFT处理的模块中建立DFT信号传输通道,并利用对应的端口信号,生成通道文件;根据例化引用关系,逐层穿插所述DFT信...