下载一种延长热载流子效应下芯片工作寿命的系统的技术资料

文档序号:13102694

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种延长热载流子效应下芯片工作寿命的系统,它包括所需集成电路工作电源、逻辑开关控制电路、所需集成电路和MOSFET器件,其特征在于:所述所需集成电路工作电源与MOSFET的漏极D相连、逻辑开关控制电路与MOSFET的栅极G相连、所需集成电路...
该专利属于杭州雄迈信息技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州雄迈信息技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。