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一种延长热载流子效应下芯片工作寿命的系统技术方案
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文档序号:13102694
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一种延长热载流子效应下芯片工作寿命的系统,它包括所需集成电路工作电源、逻辑开关控制电路、所需集成电路和MOSFET器件,其特征在于:所述所需集成电路工作电源与MOSFET的漏极D相连、逻辑开关控制电路与MOSFET的栅极G相连、所需集成电路...
该专利属于杭州雄迈信息技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州雄迈信息技术有限公司授权不得商用。
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