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本发明提供一种芯片视觉检测系统，利用安装有芯片的芯片框架在导轨上移动，并利用设置在导轨上的像机对芯片框架中的芯片进行拍照，从而获取芯片图像，并利用图像检测系统对芯片图像进行处理，判断芯片是否合格，本发明利用上述芯片视觉检测系统可以对芯片进行...
该专利属于重庆远创光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆远创光电科技有限公司授权不得商用。

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